IF ਸਪਾਟ ਵੈਲਡਿੰਗ ਮਸ਼ੀਨ ਦੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਮੇਂ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦਾ ਦੋ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਡਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਕੁੱਲ ਵਿਰੋਧ 'ਤੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਪ੍ਰਭਾਵ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਡ ਪ੍ਰੈਸ਼ਰ ਦੇ ਵਾਧੇ ਦੇ ਨਾਲ, R ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਤੌਰ 'ਤੇ ਘਟਦਾ ਹੈ, ਪਰ ਵੈਲਡਿੰਗ ਕਰੰਟ ਦਾ ਵਾਧਾ ਵੱਡਾ ਨਹੀਂ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ R ਕਮੀ ਦੇ ਕਾਰਨ ਗਰਮੀ ਪੈਦਾ ਕਰਨ ਦੀ ਕਮੀ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਤ ਨਹੀਂ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ।ਵੈਲਡਿੰਗ ਦੇ ਦਬਾਅ ਦੇ ਵਧਣ ਨਾਲ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਪਾਟ ਦੀ ਤਾਕਤ ਹਮੇਸ਼ਾ ਘੱਟ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।
ਪਿਘਲੇ ਹੋਏ ਕੋਰ ਦੇ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਪਾਟ ਦੀ ਤਾਕਤ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ, ਵੈਲਡਿੰਗ ਦਾ ਸਮਾਂ ਅਤੇ ਵੈਲਡਿੰਗ ਮੌਜੂਦਾ ਇੱਕ ਖਾਸ ਸੀਮਾ ਦੇ ਅੰਦਰ ਇੱਕ ਦੂਜੇ ਦੇ ਪੂਰਕ ਹੋ ਸਕਦੇ ਹਨ।ਖਾਸ ਤਾਕਤ ਦੇ ਨਾਲ ਵੈਲਡਿੰਗ ਸਪਾਟ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ, ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ ਵਾਲੇ ਪੱਖੇ ਲਈ ਉੱਚ ਮੌਜੂਦਾ ਛੋਟਾ ਸਮਾਂ (ਮਜ਼ਬੂਤ ਸਥਿਤੀ, ਜਿਸਨੂੰ ਹਾਰਡ ਸਪੈਸੀਫਿਕੇਸ਼ਨ ਵੀ ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ) ਨੂੰ ਅਪਣਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਘੱਟ ਮੌਜੂਦਾ ਲੰਮਾ ਸਮਾਂ (ਕਮਜ਼ੋਰ ਸਥਿਤੀ, ਜਿਸ ਨੂੰ ਸਾਫਟ ਸਪੈਸੀਫਿਕੇਸ਼ਨ ਵੀ ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ) ਨੂੰ ਵੀ ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ ਵਾਲੇ ਪੱਖੇ ਲਈ ਅਪਣਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।
ਵੱਖ-ਵੱਖ ਪ੍ਰਕਿਰਤੀ ਅਤੇ ਮੋਟਾਈ ਦੀਆਂ ਧਾਤਾਂ ਲਈ ਲੋੜੀਂਦੇ ਵਰਤਮਾਨ ਅਤੇ ਸਮੇਂ ਦੀ ਉਪਰਲੀ ਅਤੇ ਹੇਠਲੀ ਸੀਮਾ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਜੋ ਵਰਤੇ ਜਾਣ 'ਤੇ ਪ੍ਰਬਲ ਹੋਵੇਗੀ।
ਪੋਸਟ ਟਾਈਮ: ਦਸੰਬਰ-28-2023